LW200-4J适用于厂矿企业、高等院校及科研机构作金相、岩相、矿相等材料表面组织结构的薄片观察检测。也可用于电子工业部门作晶体，芯片及新材料等方面的检验与分析。
主要技术参数：
1、双目镜筒：瞳矩50-75mm 视度±5° 辅助倍数1.25X
2、平场目镜：高眼点10XΦ20mm
3、平场物镜：PL4X，PL10X，PL40X，PL100Xoil(可调换80X干镜)
4、转换器 ：四 孔（可选五孔转换器）
5、总放大倍数：50X-1250X
6、载物台：尺寸160mm*140mm 移动范围75mm*50mm
7、聚焦镜：可调式阿贝聚焦镜NA1.25 孔径光栏 滤色片座
8、调焦：粗微动同轴 升降范围20mm 微动格值:0.002mm
9、光源：柯勒照明确正交偏振装置 滤色片座 可调卤素灯12V50W
选购件：
目镜:16X/20X，物镜:20X/25X/60X/100X干镜
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